波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：

 

nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）

 

式中，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。

 

能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：

 

Q=kE

 

式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。

 

rohs荧光分析仪的设计特点：

 

1.重量轻、体积小、尖嘴部分设计符合人体工程学

 

2.性能高，现场无损检测，对不规则或很小样品测试进行自动补偿

 

3.一键式按钮设计，操作简单

 

4.1/3机身铝合金结构，散热效果好、工作稳定

 

5.10秒的快速开机优于同类仪器；测试速度快，能在数秒内准确分析RERA涉及到的金属与优先控制污染金属。

 

6.坚固的构造、密封超大屏幕彩色TFT显示，无LCD高原反应，防湿防尘

 

7.稳定先进的操作系统、先进的I-smart软件，反应迅速

 

8.海量存储、待机时间长

 

9.灵活通用的通讯功能